A 40-to-44Gb/s 3× oversampling CMOS CDR/1:16 DEMUX

Nikola Nedovic, Nestoras Tzartzanis, Hirotaka Tamura, Francis Rotella, Magnus Wiklund, Yuma Mizutani, Yusuke Okanlwa, Tadahiro Kuroda, Junji Ogawa, William Walker

    研究成果: Conference contribution

    8 被引用数 (Scopus)

    抄録

    A 3× oversampling CDR and 1:16 DEWUX occupies 0.8×1.8mm 2 in a 90nm CMOS process. The chip operates at 40 to 44Gb/s and dissipates 0 91W. Input data is sampled using a 24-phase distributed VCO and a digital CDR recovers 16 bits and a 2.5GHz clock from 48 demultiplexed samples spanning 16UI. Conformance to the ITU G.8251 jitter tolerance mask (BER <10-12 with a 231-1 PRBS source) is demonstrated.

    本文言語English
    ホスト出版物のタイトル2007 IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC - Digest of Technical Papers
    出版社Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
    ページ224-226
    ページ数3
    ISBN(印刷版)1424408539, 9781424408535
    DOI
    出版ステータスPublished - 2007
    イベント54th IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC 2007 - San Francisco, CA, United States
    継続期間: 2007 2月 112007 2月 15

    出版物シリーズ

    名前Digest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference
    ISSN(印刷版)0193-6530

    Other

    Other54th IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC 2007
    国/地域United States
    CitySan Francisco, CA
    Period07/2/1107/2/15

    ASJC Scopus subject areas

    • 電子材料、光学材料、および磁性材料
    • 電子工学および電気工学

    フィンガープリント

    「A 40-to-44Gb/s 3× oversampling CMOS CDR/1:16 DEMUX」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    引用スタイル