Changes in the local structure of Ge2Sb2Te5 upon reversible crystallization-amorphization

A. V. Kolobov, A. I. Frenkel, P. Fons, T. Uruga, J. Tominaga

研究成果: Conference contribution

抄録

The local structure of GST in a real device has been studied by EXAFS the at K-edges of all the constituent elements. Results of concurrent multi-edge analysis are discussed.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルOptical Data Storage, ODS 2003
出版社Optica Publishing Group (formerly OSA)
ページ223-224
ページ数2
ISBN(電子版)9781557528209
出版ステータスPublished - 2003
外部発表はい
イベントOptical Data Storage, ODS 2003 - Vancouver, Canada
継続期間: 2003 5月 112003 5月 14

出版物シリーズ

名前Optics InfoBase Conference Papers

Conference

ConferenceOptical Data Storage, ODS 2003
国/地域Canada
CityVancouver
Period03/5/1103/5/14

ASJC Scopus subject areas

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 材料力学

フィンガープリント

「Changes in the local structure of Ge2Sb2Te5 upon reversible crystallization-amorphization」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル