Degradation mechanism with impurities and life time estimation for SOFCs

T. Horita, D. H. Cho, F. Wang, M. Nishi, T. Shimonosono, H. Kishimoto, K. Yamaji, M. E. Brito, H. Yokokawa

研究成果: Conference contribution

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Degradation mechanism with impurities and life time estimation for SOFCs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science