Development of a low temperature scanning probe microscope

Kohta Saitoh, Kenichi Hayashi, Yoshiyuki Shibayama, Keiya Shirahama

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抄録

A scanning probe microscope working at low temperatures is developed. Frequency-modulation atomic force microscopy technique with a quartz tuning fork is employed for low temperatures use. Topographic imaging of a diffraction grating is successfully performed down to 1.3 K.

本文言語English
ページ(範囲)561-566
ページ数6
ジャーナルJournal of Low Temperature Physics
150
3-4
DOI
出版ステータスPublished - 2008 2月

ASJC Scopus subject areas

  • 原子分子物理学および光学
  • 材料科学(全般)
  • 凝縮系物理学

フィンガープリント

「Development of a low temperature scanning probe microscope」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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