Distortion of fluorescence line profile due to laser radiation pressure in an RF trap

T. Hasegawa, D. Tanooka, T. Shimizu

研究成果: Conference article査読

抄録

Distortion of laser-induced fluorescence (LIF) spectral line profile of trapped ions in an rf trap is observed and analyzed. It is found by establishing a theoretical model that collisions and laser radiation pressure induce the distortion. Furthermore, a new type line profile predicted by this model is observed.

本文言語English
ページ(範囲)335-336
ページ数2
ジャーナルCPEM Digest (Conference on Precision Electromagnetic Measurements)
出版ステータスPublished - 1998 12 1
外部発表はい
イベントProceedings of the 1998 Conference Precision Electromagnetic Measurements - Washington, DC, USA
継続期間: 1998 7 61998 7 10

ASJC Scopus subject areas

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 器械工学
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「Distortion of fluorescence line profile due to laser radiation pressure in an RF trap」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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