Fidelity benchmarks for two-qubit gates in silicon

W. Huang, C. H. Yang, K. W. Chan, T. Tanttu, B. Hensen, R. C.C. Leon, M. A. Fogarty, J. C.C. Hwang, F. E. Hudson, K. M. Itoh, A. Morello, A. Laucht, A. S. Dzurak

研究成果: Article査読

180 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Fidelity benchmarks for two-qubit gates in silicon」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Medicine & Life Sciences