Fidelity benchmarks for two-qubit gates in silicon

W. Huang, C. H. Yang, K. W. Chan, T. Tanttu, B. Hensen, R. C.C. Leon, M. A. Fogarty, J. C.C. Hwang, F. E. Hudson, K. M. Itoh, A. Morello, A. Laucht, A. S. Dzurak