High-contrast imaging of NiO nano-channels using a polarization near-field scanning optical microscope

M. Sakai, S. Mononobe, A. Sasaki, M. Yoshimoto, T. Saiki

研究成果: Article査読

14 被引用数 (Scopus)

抄録

We demonstrated the use of a polarization near-field scanning optical microscope (NSOM) with an aperture probe in illumination-collection (internal reflection) mode operation to obtain high-contrast images of very shallow NiO nano-channels. This was accomplished by measuring the polarization change (depolarization) due to the near-field interaction between the probe aperture and the nano-channel. The polarization NSOM is a promising tool for high-resolution optical detection of nanostructures.

本文言語English
ページ(範囲)S362-S364
ジャーナルNanotechnology
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6
DOI
出版ステータスPublished - 2004 6月

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  • バイオエンジニアリング
  • 化学 (全般)
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フィンガープリント

「High-contrast imaging of NiO nano-channels using a polarization near-field scanning optical microscope」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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