Introduction of defect levels in resistive-evaporated n-Si Schottky barrier diodes

Eiji Ohta, K. Kakishita, H. Y. Lee, T. Sato, M. Sakata

研究成果: Article査読

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フィンガープリント

「Introduction of defect levels in resistive-evaporated n-Si Schottky barrier diodes」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy