Ionized impurity scattering in isotopically engineered, compensated Ge:Ga,As

K. M. Itoh, T. Kinoshita, W. Walukiewicz, J. W. Beeman, E. E. Haller, J. Muto, J. W. Farmer, V. I. Ozhogin

研究成果: Article査読

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Ionized impurity scattering in isotopically engineered, compensated Ge:Ga,As」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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