Local structure of epitaxial GeTe and Ge2Sb2Te5 films grown on InAs and Si substrates with (100) and (111) orientations: An x-ray absorption near-edge structure study

A. V. Kolobov, P. Fons, M. Krbal, J. Tominaga, A. Giussani, K. Perumal, H. Riechert, R. Calarco, T. Uruga

研究成果: Article査読

7 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Local structure of epitaxial GeTe and Ge<sub>2</sub>Sb<sub>2</sub>Te<sub>5</sub> films grown on InAs and Si substrates with (100) and (111) orientations: An x-ray absorption near-edge structure study」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy