Microscopic imaging of defect density distribution in InGaP and GaN using the decay time of photo-excited carriers

S. Kamata, K. Horiuchi, M. Sato, M. Kaneko, S. Takahashi, F. Kannari

研究成果: Conference contribution

抄録

With pump-probe laser measurements of transient reflectivity representing the photo-excited carrier lifetime, we obtained two-dimensional images of the defect density distribution for InGaP and GaN. The defect distributions are compared with cathode-luminescence images.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルFrontiers in Optics, FiO-2004
出版社Optica Publishing Group (formerly OSA)
ISBN(電子版)9781557528209
出版ステータスPublished - 2004
イベントFrontiers in Optics, FiO-2004 - Rochester, United States
継続期間: 2004 10月 12 → …

出版物シリーズ

名前Optics InfoBase Conference Papers

Conference

ConferenceFrontiers in Optics, FiO-2004
国/地域United States
CityRochester
Period04/10/12 → …

ASJC Scopus subject areas

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 材料力学

フィンガープリント

「Microscopic imaging of defect density distribution in InGaP and GaN using the decay time of photo-excited carriers」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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