Nanometer-scale mapping of local work function with a photon-assisted STM technique

Yasuo Nakayama, Hiroshi Kondoh, Toshiaki Ohta

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抄録

Local work-function mapping has been performed using scanning tunneling microscopy (STM) combined with visible laser light. Spatial distribution of the work function was visualized for inhomogeneous alkali-metal overlayers on a patterned Cu surface in a nanometer scale formed by nitrogen ion implantation. The spatial resolution of this technique is estimated to be in a sub-nanometer range.

本文言語English
ページ(範囲)18-22
ページ数5
ジャーナルApplied Surface Science
241
1-2 SPEC. ISS.
DOI
出版ステータスPublished - 2005 2 28
外部発表はい

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