Observation of polysilane by near-field scanning optical microscope for ultraviolet (UV) region

Masayuki Arai, S. Ya Koshihara, Minoru Ueda, Mamoru Yoshimoto, Toshiharu Saiki, Shuji Mononobe, Motoichi Ohtsu, Takashi Miyazawa, Mitsuo Kira

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抄録

Near-field scanning optical microscope (NSOM) for ultraviolet (UV) region based on a triple tapered probe and an atomically flat sapphire plate technique has been developed. We demonstrate the fluorescence images of polysilane molecules dispersed on sapphire plate with ultra-flat surface utilizing the UV-NSOM system.

本文言語English
ページ(範囲)951-953
ページ数3
ジャーナルJournal of Luminescence
87
DOI
出版ステータスPublished - 2000 5
外部発表はい

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「Observation of polysilane by near-field scanning optical microscope for ultraviolet (UV) region」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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