Probing the behaviors of point defects in silicon and germanium using isotope superlattices

M. Uematsu, M. Naganawa, Y. Shimizu, K. M. Itoh, K. Sawano, Y. Shiraki, E. E. Haller

研究成果: Conference contribution

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Probing the behaviors of point defects in silicon and germanium using isotope superlattices」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science