Profilometry based on two-photon absorption in a silicon avalanche photodiode

Yosuke Tanaka, Naoya Sako, Takashi Kurokawa, Hiroyuki Tsuda, Mitsuo Takeda

研究成果: Article査読

24 被引用数 (Scopus)

抄録

A novel profilometry method based on two-photon absorption in a silicon avalanche photodiode is proposed. This method has a wide dynamic range, from millimeters to tens of meters. The principle is experimentally confirmed with a fiber-optic Mach - Zehnder interferometer.

本文言語English
ページ(範囲)402-404
ページ数3
ジャーナルOptics Letters
28
6
DOI
出版ステータスPublished - 2003 3月 15

ASJC Scopus subject areas

  • 原子分子物理学および光学

フィンガープリント

「Profilometry based on two-photon absorption in a silicon avalanche photodiode」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル