Recovery of X-ray radiation damage in anthracene single crystals

Kohei Yokoi, Yujiro Ohba

研究成果: Article査読

3 被引用数 (Scopus)

抄録

Imperfections are introduced in anthracene single crystals by low energy (≤ 20 keV) X-ray irradiation. About 60% of these imperfections can be recovered by annealing. The activation energy for recovery of the structural defects is measured to be 1.12 eV, using triplet excitons as a probe.

本文言語English
ページ(範囲)560-562
ページ数3
ジャーナルChemical Physics Letters
56
3
DOI
出版ステータスPublished - 1978 6 15

ASJC Scopus subject areas

  • 物理学および天文学(全般)
  • 物理化学および理論化学

フィンガープリント

「Recovery of X-ray radiation damage in anthracene single crystals」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル