Search for Electron Antineutrino Appearance in a Long-Baseline Muon Antineutrino Beam

K. Abe, R. Akutsu, A. Ali, C. Alt, C. Andreopoulos, L. Anthony, M. Antonova, S. Aoki, A. Ariga, Y. Asada, Y. Ashida, E. T. Atkin, Y. Awataguchi, S. Ban, M. Barbi, G. J. Barker, G. Barr, D. Barrow, C. Barry, M. Batkiewicz-KwasniakA. Beloshapkin, F. Bench, V. Berardi, S. Berkman, L. Berns, S. Bhadra, S. Bienstock, A. Blondel, S. Bolognesi, B. Bourguille, S. B. Boyd, D. Brailsford, A. Bravar, D. Bravo Berguño, C. Bronner, A. Bubak, M. Buizza Avanzini, J. Calcutt, T. Campbell, S. Cao, S. L. Cartwright, M. G. Catanesi, A. Cervera, A. Chappell, C. Checchia, D. Cherdack, N. Chikuma, G. Christodoulou, J. Coleman, G. Collazuol, L. Cook, D. Coplowe, A. Cudd, A. Dabrowska, G. De Rosa, T. Dealtry, P. F. Denner, S. R. Dennis, C. Densham, F. Di Lodovico, N. Dokania, S. Dolan, T. A. Doyle, O. Drapier, J. Dumarchez, P. Dunne, L. Eklund, S. Emery-Schrenk, A. Ereditato, P. Fernandez, T. Feusels, A. J. Finch, G. A. Fiorentini, G. Fiorillo, C. Francois, M. Friend, Y. Fujii, R. Fujita, D. Fukuda, R. Fukuda, Y. Fukuda, K. Fusshoeller, K. Gameil, C. Giganti, T. Golan, M. Gonin, A. Gorin, M. Guigue, D. R. Hadley, J. T. Haigh, P. Hamacher-Baumann, M. Hartz, T. Hasegawa, N. C. Hastings, T. Hayashino, Y. Hayato, A. Hiramoto, M. Hogan, J. Holeczek, N. T. Hong Van, F. Iacob, A. K. Ichikawa, M. Ikeda, T. Ishida, T. Ishii, M. Ishitsuka, K. Iwamoto, A. Izmaylov, M. Jakkapu, B. Jamieson, S. J. Jenkins, C. Jesús-Valls, M. Jiang, S. Johnson, P. Jonsson, C. K. Jung, M. Kabirnezhad, A. C. Kaboth, T. Kajita, H. Kakuno, J. Kameda, D. Karlen, S. P. Kasetti, Y. Kataoka, T. Katori, Y. Kato, E. Kearns, M. Khabibullin, A. Khotjantsev, T. Kikawa, H. Kim, J. Kim, S. King, J. Kisiel, A. Knight, A. Knox, T. Kobayashi, L. Koch, T. Koga, A. Konaka, L. L. Kormos, Y. Koshio, A. Kostin, K. Kowalik, H. Kubo, Y. Kudenko, N. Kukita, S. Kuribayashi, R. Kurjata, T. Kutter, M. Kuze, L. Labarga, J. Lagoda, M. Lamoureux, M. Laveder, M. Lawe, M. Licciardi, T. Lindner, R. P. Litchfield, S. L. Liu, X. Li, A. Longhin, L. Ludovici, X. Lu, T. Lux, L. N. MacHado, L. Magaletti, K. Mahn, M. Malek, S. Manly, L. Maret, A. D. Marino, L. Marti-Magro, J. F. Martin, T. Maruyama, T. Matsubara, K. Matsushita, V. Matveev, K. Mavrokoridis, E. Mazzucato, M. McCarthy, N. McCauley, K. S. McFarland, C. McGrew, A. Mefodiev, C. Metelko, M. Mezzetto, A. Minamino, O. Mineev, S. Mine, M. Miura, L. Molina Bueno, S. Moriyama, J. Morrison, Th A. Mueller, L. Munteanu, S. Murphy, Y. Nagai, T. Nakadaira, M. Nakahata, Y. Nakajima, A. Nakamura, K. G. Nakamura, K. Nakamura, S. Nakayama, T. Nakaya, K. Nakayoshi, C. Nantais, T. V. Ngoc, K. Niewczas, K. Nishikawa, Y. Nishimura, T. S. Nonnenmacher, F. Nova, P. Novella, J. Nowak, J. C. Nugent, H. M. O'Keeffe, L. O'Sullivan, T. Odagawa, K. Okumura, T. Okusawa, S. M. Oser, R. A. Owen, Y. Oyama, V. Palladino, J. L. Palomino, V. Paolone, W. C. Parker, J. Pasternak, P. Paudyal, M. Pavin, D. Payne, G. C. Penn, L. Pickering, C. Pidcott, G. Pintaudi, E. S. Pinzon Guerra, C. Pistillo, B. Popov, K. Porwit, M. Posiadala-Zezula, A. Pritchard, B. Quilain, T. Radermacher, E. Radicioni, B. Radics, P. N. Ratoff, E. Reinherz-Aronis, C. Riccio, E. Rondio, S. Roth, A. Rubbia, A. C. Ruggeri, C. A. Ruggles, A. Rychter, K. Sakashita, F. Sánchez, C. M. Schloesser, K. Scholberg, J. Schwehr, M. Scott, Y. Seiya, T. Sekiguchi, H. Sekiya, D. Sgalaberna, R. Shah, A. Shaikhiev, F. Shaker, A. Shaykina, M. Shiozawa, W. Shorrock, A. Shvartsman, A. Smirnov, M. Smy, J. T. Sobczyk, H. Sobel, F. J.P. Soler, Y. Sonoda, J. Steinmann, S. Suvorov, A. Suzuki, S. Y. Suzuki, Y. Suzuki, A. A. Sztuc, M. Tada, M. Tajima, A. Takeda, Y. Takeuchi, H. K. Tanaka, H. A. Tanaka, S. Tanaka, L. F. Thompson, W. Toki, C. Touramanis, T. Towstego, K. M. Tsui, T. Tsukamoto, M. Tzanov, Y. Uchida, W. Uno, M. Vagins, S. Valder, Z. Vallari, D. Vargas, G. Vasseur, C. Vilela, W. G.S. Vinning, T. Vladisavljevic, V. V. Volkov, T. Wachala, J. Walker, J. G. Walsh, Y. Wang, D. Wark, M. O. Wascko, A. Weber, R. Wendell, M. J. Wilking, C. Wilkinson, J. R. Wilson, R. J. Wilson, K. Wood, C. Wret, Y. Yamada, K. Yamamoto, C. Yanagisawa, G. Yang, T. Yano, K. Yasutome, S. Yen, N. Yershov, M. Yokoyama, T. Yoshida, M. Yu, A. Zalewska, J. Zalipska, K. Zaremba, G. Zarnecki, M. Ziembicki, E. D. Zimmerman, M. Zito, S. Zsoldos, A. Zykova

研究成果: Article査読

5 被引用数 (Scopus)

抄録

Electron antineutrino appearance is measured by the T2K experiment in an accelerator-produced antineutrino beam, using additional neutrino beam operation to constrain parameters of the Pontecorvo-Maki-Nakagawa-Sakata (PMNS) mixing matrix. T2K observes 15 candidate electron antineutrino events with a background expectation of 9.3 events. Including information from the kinematic distribution of observed events, the hypothesis of no electron antineutrino appearance is disfavored with a significance of 2.40σ and no discrepancy between data and PMNS predictions is found. A complementary analysis that introduces an additional free parameter which allows non-PMNS values of electron neutrino and antineutrino appearance also finds no discrepancy between data and PMNS predictions.

本文言語English
論文番号161802
ジャーナルPhysical review letters
124
16
DOI
出版ステータスPublished - 2020 4月 24

ASJC Scopus subject areas

  • 物理学および天文学(全般)

フィンガープリント

「Search for Electron Antineutrino Appearance in a Long-Baseline Muon Antineutrino Beam」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル