TCI Tester: Tester for through Chip Interface

Hideto Kayashima, Hideharu Amano

研究成果: Conference contribution

本文言語English
ホスト出版物のタイトルProceedings of the 26th Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC 2021
出版社Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ページ103-104
ページ数2
ISBN(電子版)9781450379991
DOI
出版ステータスPublished - 2021 1 18
イベント26th Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC 2021 - Virtual, Online, Japan
継続期間: 2021 1 182021 1 21

出版物シリーズ

名前Proceedings of the Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC

Conference

Conference26th Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC 2021
国/地域Japan
CityVirtual, Online
Period21/1/1821/1/21

ASJC Scopus subject areas

  • 電子工学および電気工学
  • コンピュータ サイエンスの応用
  • コンピュータ グラフィックスおよびコンピュータ支援設計

引用スタイル