Terahertz profilometer by time-domain polarimetry

Naoya Yasumatsu, Shinichi Watanabe

研究成果: Conference contribution

1 被引用数 (Scopus)

抄録

We experimentally show that continuously changing polarity of an elliptically-polarized terahertz electric-field can be used to image a height profile of semiconductors, metals, and their hybrid samples with a depth resolution of ∼1 μm.

本文言語English
ホスト出版物のタイトル2012 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2012
出版ステータスPublished - 2012 12月 6
イベント2012 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2012 - San Jose, CA, United States
継続期間: 2012 5月 62012 5月 11

出版物シリーズ

名前2012 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2012

Other

Other2012 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2012
国/地域United States
CitySan Jose, CA
Period12/5/612/5/11

ASJC Scopus subject areas

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料

フィンガープリント

「Terahertz profilometer by time-domain polarimetry」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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