Terahertz profilometer by time-domain polarimetry

Naoya Yasumatsu, Shinichi Watanabe

研究成果: Conference contribution

抄録

We experimentally show that continuously changing polarity of an ellipticallypolarizedterahertz electric-field can be used to image a height profile of semiconductors, metals, and their hybrid samples with a depth resolution of ̃1 μm.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルCLEO
ホスト出版物のサブタイトルScience and Innovations, CLEO_SI 2012
出版社Optical Society of America (OSA)
ページCTu3B.7
ISBN(印刷版)9781557529435
DOI
出版ステータスPublished - 2012
イベントCLEO: Science and Innovations, CLEO_SI 2012 - San Jose, CA, United States
継続期間: 2012 5月 62012 5月 11

出版物シリーズ

名前CLEO: Science and Innovations, CLEO_SI 2012

Other

OtherCLEO: Science and Innovations, CLEO_SI 2012
国/地域United States
CitySan Jose, CA
Period12/5/612/5/11

ASJC Scopus subject areas

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料

フィンガープリント

「Terahertz profilometer by time-domain polarimetry」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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