The use of SE(T) specimen fracture toughness for FFS assessment of defects in low constraint conditions

J. J. Han, N. O. Larrosa, R. A. Ainsworth, Y. J. Kim

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フィンガープリント

「The use of SE(T) specimen fracture toughness for FFS assessment of defects in low constraint conditions」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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