The use of SE(T) specimen fracture toughness for FFS assessment of defects in low constraint conditions

J. J. Han, N. O. Larrosa, R. A. Ainsworth, Yun Jae Kim

研究成果: Article

4 引用 (Scopus)

フィンガープリント The use of SE(T) specimen fracture toughness for FFS assessment of defects in low constraint conditions' の研究トピックを掘り下げます。これらはともに一意のフィンガープリントを構成します。

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