Universal relationship between low-field mobility and high-field carrier velocity in high-κ and SiO2 gate dielectric MOSFETs

Masumi Saitoh, Ken Uchida

研究成果: Conference contribution

5 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Universal relationship between low-field mobility and high-field carrier velocity in high-κ and SiO2 gate dielectric MOSFETs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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