X-ray photoelectron spectroscopy analysis of boron defects in silicon crystal: A first-principles study

Jun Yamauchi, Yoshihide Yoshimoto, Yuji Suwa

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フィンガープリント

「X-ray photoelectron spectroscopy analysis of boron defects in silicon crystal: A first-principles study」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy